Für Materialuntersuchungen stehen mehrere Licht- und ein Rasterelektronenmikroskop zur Verfügung.
Fehler- und Schadensanalyse an Kunststoffteilen werden auch als Dienstleistung ausgeführt.
Rasterelektronenmikroskop
Besonderheiten: Auswertung und Verarbeitung der Bilder über PC
Oberflächenscan zur Bestimmung der chemischen Elemente
(qualitative Analyse)
Auflichtmikroskop
Durchlichtmikroskop
Mikrotomschnittechnik
Fragen Sie uns: INFO@ZWEI-R.COM


